Usoskin A., Schneider T., Rutt A., Dietrich R., Kirchhoff L., Hofacker F., Hessler A., Svistunova O., Kruglov V.
Bottura L., Usoskin A., Selvamanickam V., Polyanskii A., Rossi L., Senatore C., Rutt A., Dietrich R., Ballarino A., Schlenga K., Jaroszynski J., Abraimov D., Viouchkov Y.L., Barth C., Santos M., McCallister J., Francis A., Majkic G.S.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, composition, local distribution, defects, pinning centers, doping effect, lattice parameter, substrate Ni-Cr, IBAD process, PLD process, microstructure, fabrication, critical caracteristics, critical current density, critical current, angular dependence, magnetic field dependence, experimental results
Bottura L., Usoskin A., Larbalestier D., Senatore C., Rutt A., Dietrich R., Kirchhoff L., Schlenga K., Selvamanikam V., Abraimov D.
Ключевые слова: deposition setup, presentation, HTS, YBCO, coated conductors, long conductors, PLD process, buffer layers, texture, fabrication, critical caracteristics, critical current, uniformity, fluctuations, magnetic field dependence, temperature dependence, microstructure, percolation characteristics, width, length
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.